全球领先的测试、测量仪器供给商泰克公司(Tektronix, Inc.)宣布推出吉时利(Keithley) S530参数测试体系的重大年夜软件更新（KTE 5.6版），可以或许将测量时光削减25%。这将增长晶圆级测试吞吐量，并直接降低拥有S530产品的半导体临盆和研发部分的购买成本。

    泰克公司吉时利产品线总经理Mike Flaherty表示：“说到临盆和测试现代化的集成电路器件，降低购买成本是关键。凭借最新推出的软件版本，我们进一步降低了参数测试体系购买成本，缩短了测量时光，大年夜而进步产线晶圆测试吞吐量。这将赞助我们的客户进步利润和在快速成长的行业里保持竞争力。”

    S530软件更新版本经由过程缩短弱电流测量的建立时光大年夜而加强源测量单位的测试速度。更快的电流测量将带来更快的体系测量速度。新的体系测量设置和无缝链接的的软件履行构造进一步进步体系速度。此次更新还包含整合了泰克的最新吉时利数字万用表，用于更快的低电压和低电阻测量。

    下出世产成本和增长产能是半导体临盆公司的关键目标，这些公司还必须解决赓续变更的材料演进和器件设计的改革。产线上的参数测试吞吐量和测试体系购买成本与完成半导体晶圆所需的测量总时光直接相干。新推出的吉时利S530测试体系的KTE软件经由过程大年夜幅进步测试速度，向着这一目标迈进一步。

    S530应用

    优化的S530实用于广泛的分立器件组合或广泛的应用灵活性浇忧⒛参数测试情况，而快速制订测试筹划也至关重要。除了平日用于测试标准的互补金属氧化物半导体、双极性晶体管、微电子机械体系以及其它电压相对较低如200V的半导体工艺制程外，吉时利还供给独有的一千伏高压测试体系，用于GaN、SiC和Si LDMOS电力装配所需的高击穿电压和低漏流测试需求。<